继扫描电子显微镜、聚焦离子/电子双束显微镜之后，又一台新设备——透射电子显微镜“入驻”广东以色列理工学院电镜中心。
透射电子显微镜与其他两台电镜有何不同？它将在哪些领域大显神通？广以君这就带你一睹为快！
认识自然、探索未知是人类不懈的追求。利用丰富多样的仪器设备进行观察、分析、研究，便是人们探索奥秘的重要手段之一。广以电镜中心的透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope - TEM）便是这样一台帮助科研人员进行跨学科、多维度研究工作的科研“神器”。
这台透射电子显微镜的型号为Thermo Scientific Talos F200X，它结合了高分辨率的透射和扫描透射（Scanning Transmission Electron Microscope - STEM）成像技术与行业领先的能量色散X射线光谱（Energy Dispersive X-ray Spectroscopy - EDS）信号检测技术，是一台分析型电镜。
Talos的突出优势在于配备了集成四个硅漂移探测器 （Silicon Drift Detectors - SDD）的EDS系统，能够最大限度地提高X-ray的收集效率，可以快速准确地对样品进行成分分析。
性能指标
加速电压：200 kV、120 kV、80 kV
TEM信息分辨率：0.12 nm
STEM高角度环形暗场像分辨率：0.16 nm
EDS能量分辨率：≤136 eV
主要功能
高分辨率TEM成像（明场像、暗场像、原子像）
高质量电子衍射分析（选区电子衍射、纳米束电子衍射、会聚束电子衍射）
高分辨率STEM成像（明场像、暗场像、高角度环形暗场像、差分相位衬度成像）
快速精确EDS分析（点扫描、线扫描、面扫描）
TEM、STEM、EDS三维重构
洛伦兹模式成像
应用领域
Talos可应用于材料科学、能源科学与生命科学领域多种材料多维度的表征与测试。以下是部分应用举例：
1、AlSi10Mg合金
图(a)为AlSi10Mg合金高角度环形暗场像，图(b)、(c)、(d)、(e)分别为样品中Al、Ti、Mg、Fe元素的面分布图，图(f)为样品中Al、Ti、Fe元素分布的位置叠加图。
AlSi10Mg合金EDS元素面分布图
[01-1]带轴方向下α-Al的(111)晶面（d=2.34Å）、(1-1-1)晶面（d=2.34Å）与(200)晶面（d=2.02Å）。
