对数字集成电路进行检测,就是检测其输入引脚与输出引脚之间逻辑关系是否存在。由于数字集成电路种类太多,完成的逻辑功能又多种多样,逐项检测其指标高低是不现实的。比较简便易行的方法是,用万用表检测集成电路各引出脚与接地引脚之间的正、反向电阻值(即内部电阻值),并与正品的内部电阻值比较,便能很快确定被测集成电路的好坏。实践证明,这种检测数字集成电路好坏的方法是行之有效的,既适用于早期生产的 TTL 型数字电路,也适用于近几年生产的 MOS 集成电路。为防止检测 MOS 型数字电路时静电高压将其损坏,应尽量避免其输入端悬空,手腕上最好套一个接大地的金属箍。如需要用烙铁焊接时,烙铁要良好接地(可用三芯插头),或者拔下电源后再进行焊接,以避免烙铁因漏电而将其损坏。
在数字电路中,最基本的逻辑电路是门电路。用门电路可以组成各种各样的逻辑电路,因而门电路在数字电路中应用最多。基于这两方面的原因,下面主要介绍一下门电路性能的简便检测方法,简要介绍一下触发器、计数器的检测方法。
门电路的基本形式有“与”门、“非”门、“或”门、“与非”门、“或非”门,其代表符号和逻辑功能见表9-6。需指出的是,数字电路中的逻辑关系有正逻辑与负逻辑之分。若规定高电平为“1”,低电平为“0”,称为正逻辑;反之,若规定高电平为“0”,低电平为“1”,则称为负逻辑。
▼表9-6 几种门电路逻辑功能比较
下面以“与非”门电路作为例子,介绍一下其引脚判别及主要技术指标的检测方法,其余类型数字电路的检测方法,限于篇幅不再赘述。典型TTL“与非”门的主要参数见表9-7。
▼表9-7 典型TTL“与非”门的主要参数
注:*指用示波器测试tpt时,“与非”门输入端应接幅度为3V、频率为2MHz的方波信号。
电源引脚与接地引脚的检测“与非”门电路及其他数字电路电源引脚与接地引脚的安排方式有两种:左上角最边上的一只为电源引脚,右下角最边上的一只为接地脚,如图 9-20 所示;上边中间一只为电源引脚,下边中间一只为接地引脚,如图 9-21 所示。这两种引脚的安排方式,前一种最多,后一种较少,且多为国产老型号。
图9-20 数字电路的电源引脚和接地引脚